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X-Ray Diffractometer, XRD에 관련되어

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작성일 24-04-06 02:27

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2. XRD의 원리

- X-ray diffraction은 1912년에 결정에 의해서 X-ray가 회절 한다는 현상이 발견됨으로써 X-ra…(省略)

(1) 주사회전축(Scan axis) 선택

① ?/2? 축 : 가장 보편적으로 사용되는 방법으로 X-선원이 고정되어 있는 상태에서 시료는 ?로, 카운터는 2?로 회전하며 측정(測定) 하는 방법

② 2?축 : ?를 고정(시료고정)하고 카운터만 2?로 회전하며 측정(測定) 하는 방법 측정(測定) 시 시료 면에 대하여 작은 각도 ?(보통 0.5-3˚)로 X-선을 입사 시켜 X-선의 침 투깊이를 감소시킴으로써 표면에서의 회절빔을 효능적으로 검출하기 위해 사용된다된다.
설명

1. X-Ray Diffractometer, XRD란?

- XRD란 X-Ray Diffraction의 약자로서 X-ray를 어떠한 샘플에 투사하면 X선이 산란 및 회절을 하게 되는데 이러한 회절 패턴을 分析(분석)하는 것을 말한다.

②어떤 물질인지 알고 있을 때는 JCPDS Card를 이용하여 측정(測定) 범위를 결정

③미지시료의 경우는 넓은 범위(2?=5-140˚정도)를 빠른 속도로 측정(測定) 하고, 특정 peak 위치를 정확히 측정(測定) 하고자 할 때는 특정 peak 위치의 좁은 구간(2-3˚정도)을 천천히 측정(測定) 하는 것이 좋다.

3. XRD 에 의한 X선 회절 分析(분석)법


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다.

③ ?축 : Rocking-curve 측정(測定) 시 사용되며, 2?를 고정(카운터 고정)하고 시료만 ?로 회전하며 측정(測定) 하는 방법

① 연속적 주사(Continuous scan)

② 단속적 주사(Step scan)

①시료의 종류, 측정(測定) 목적에 따라 필요한 각도 범위로 주사한다.

④Wide angle goniometer의 경우 측정(測定) 가능한 범위는 2?=3-145˚이다. 이를 응용하면 물질의 미세 구조를 보다 정확하게 알 수 있다
- 회절 X선 스펙트럼을 이용하는 시성분(成分)석법. X선 회절사진의 흑화도를 측정(測定) 하든가 또는 X선 회절계를 사용해서 고체시료의 회절 X선을 취해서 물질의 동정(同定) 혼합분말의 혼합화의 결정, 고용체의 分析(분석) 등을 하는 방법등이 있다 최근에는 자기(自記) X선 회 절계가 발달했기 때문에 단색 X선에 의한 분말결정이 산란강도 분포측정(測定) 이나 면간격 을 이미 알고 있는 결정이 면반사를 이용해 입사 X선의 파장스펙트럼 分析(분석)을 자동적 으로 할 수가 있도록 되었다.

REPORT 11(sv76)


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