기초전자공학 test(실험) - RLC회로의 과도 응답
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작성일 23-09-03 20:13
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실험과제/기타
설명
기초전자공학 test(실험) - RLC회로의 과도 응답
순서
기초전자공학,실험,RLC회로,과도,응답,기타,실험과제
1.실험headline(제목)
- RLC회로의 과도 응답2.실험목표(目標)
1) 오실로스코프와 함수발생기의 사용법을 실험을 통해 익힌다.
3.실험재료
- 디지털 멀티미터, 전원공급기, 오실로스코프, 함수발생기,470Ω, 1kΩ, 10kΩ저항10㎌, 0.1㎌ 커패시터 100 mH 인덕터
4.실험과정 및 결과
1) 신호 발생기의 출력이 5 V의 진폭(peak-to-peak 전압이 10 V)을 갖는 10 Hz 안팎의 구형파가 되도록 설정하고 (duty cycle은 50%가 되도록 함), 1 ㏀ 저항과 10 ㎌의 커패시터가 직렬 연결된 회로에 인가하라. 이때 저항과 커패시터에 나타나는 전압 파형을 오실로스코프로 관측하고 그려라. 이 그림으로부터 시정수를 구해보라.
시정수 : 인가한 전압의 63.2%가 되기까지 걸리는 시간 (t = RC)- theory(이론)값 : 10 ms
- 실험값 101Hz = 9.9 ms
2) 신호 발생기의 출력이 5 V의 진폭을 갖는 200 Hz 안팎의 구형파(square wave)가 되도록 설정하고 (duty cycle은 50%가 되도록 함), 470 Ω 저항과 500 mH의 인덕터가 직렬 연결된 회로에 인가하라. 이때 저항과 인덕터에 나타나는 전압 파형을 오실로스코프로 관측하고 그려라. 이 그림으로부터 시정수를 구해보라.
시…(To be continued )5.고찰
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다.
